产地类别: 国产
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优可测Atometrics薄膜测厚仪AF-3000系列T050
型号:AF-3000系列T050 面议优可测Atometrics光学薄膜测量设备T050
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型号:AF Mapping系列T050 面议薄膜厚度测量仪AF-3000系列:快速测量多种材质的薄膜厚度;最多可测10层膜,精度可达0.1nm;适用于离线、在线、Mapping等多个场景。
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