产地类别: 进口
工作温度: 非制冷型
测量方式: 非接触式
用途: 测温型
响应波长: 中波
热灵敏度/NETD: <20mk
测温范围: 室温〜300
精度: ±2°C或±2%
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Optotherm Thermal Emmision Microscope/ 热发射显微镜系统,可用于微器件测温及失效分析如 IC,PCB,PCBA,LED等等电子产品的缺陷热点定位。
温度分辨率:< 0.001℃
光学分辨率:5um
低侦测功耗: <5uw
最快定位时间:< 5s
热发射显微镜系统(Thermal Emission microscopy system),是半导体失效分析和缺陷定位的常用的三大手段之一(EMMI,THERMAL,OBIRCH),是通过接收故障点产生的热辐射异常来定位故障点(热点/Hot Spot)位置。
而OPTOTHERM Sentris 热发射显微镜系统,标配LOCK IN THERMOGRAPHY锁相热成像技术,将锁相技术和热成像技术有机结合,获得超过1mk以上的温度分辨率,对uA级漏电流或微短路等导致的缺陷,提供了非常好的解决方案。
利用锁相技术,将温度分辨率提高到0.001℃,5um分辨率镜头,可以侦测uA级漏电流和微短路缺陷
产品货期: 30天
整机质保期: 1年
培训服务: 安装调试现场免费培训;额外提供免费培训
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