仪器种类： 台式/落地式能量色散型X荧光光谱、XRF
行业专用类型： 通用
产地类别： 进口
元素分析范围： C(6)-Am(95)
分析含量范围： 1ppm-99.99%
能量分辨率： <140eV（Mn Kα）
探测器： XFlash 硅漂移探测器
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M4 TORNADOPLUS - 微区X射线荧光成像的新纪元
M4 TORNADO微区X射线荧光成像光谱仪PLUS能够检测出C（6）-Am（95）间元素的微区X射线荧光成像光谱仪。
作为微区X射线荧光成像光谱仪M4TORNADO系列的新产品，M4 TORNADOPLUS又增添了功能，例如孔径管理系统，高通量脉冲处理器以及快速灵活更换的样品台。
更轻、更快、更深
M4 TORNADOPLUS采用轻元素窗口的大面积硅漂移探测器（SDD）实现对轻元素碳的检测，高通量脉冲采样，BRUKER孔径管理系统（AMS）可以获取大景深，对表面不平整样品分析具有优势。
轻元素检测
M4 TORNADOPLUS能够检测分析轻质元素碳的微区X射线荧光成像光谱仪，具备两个具有轻元素窗口的大面积硅漂移探测器和一个优化的Rh靶X射线光管。
与普通微区X射线荧光成像光谱仪不同，M4 TORNADOPLUS在不影响较高能量范围内元素灵敏度的前提下，还可以检测原子数小于11的元素（Z＜11），例如氟（F）、氧（O）、氮（N）和碳（C）。
随着功能性的增强，M4 TORNADOPLUS应用也正在开发和拓展中，例如地质学、矿物学、生物学、聚合物研究或半导体行业等方向。
应用实例-萤石和方解石的区分
萤石（CaF2）和方解石（CaCO3）都是以钙为主要成分的矿物。它们的区别在于分别存在轻质元素氟（F），氧（O），碳（C）；由于普通微区X射线荧光成像光谱仪检测不到Z＜11(Na）的元素，无法区分这两种矿物，所以萤石和方解石的光谱图上都只会显示Ca元素谱线。
利用轻元素探测器，M4 TORNADOPLUS可以检测氟（F）、氧(O)和碳(C)，从而鉴别这两种矿物。
图：鉴别萤石与方解石
左：方解石（红）和萤石（蓝）的元素分布图；图像尺寸：20×12mm2；扫描分辨率：800×460pixels
右：萤石（蓝）和方解石（红）的轻质元素光谱图。
应用实例-电路板
由于AMS的场深度深，如图所示电路板的X射线图像获得更多的细节。此外，由于激发X射线光子的入口和出口角度减小，光束能量依赖性变得不那么明显。
图：具备AMS与不具备AMS的电路板元素分布图
左图: 标准多导毛细管聚焦在电路板上，元件的高点失焦，显得模糊。
右图: AMS系统加载下图像显示高景深，组件聚焦在更大的景深范围内。
公安/司法 2022-10-08
公安/司法 2022-10-08
产品货期: 45天
整机质保期: 1年
培训服务: 安装调试现场免费培训；额外提供免费培训；提供付费培训
安装调试时间: 到货后15天内
电话支持响应时间: 8小时内
是否提供维保合同: 是
维修响应时间: 1天内
节假日是否提供上门服务: 是
核心零部件货期: 3天
核心零部支持时间: 10年
是否支持上门巡检: 是
是否提供预防性维护计划: 是
是否提供期间核查方案: 是
是否提供免费应用支持: 是
是否提供付费应用支持: 是
是否提供线上售后平台: 是
维修付款方式: 先维修后付款
基本维修资料公开: 技术参数；维修手册
无理由退换货: 不支持
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