仪器种类: 台式/落地式能量色散型X荧光光谱、XRF
行业专用类型: 通用
产地类别: 进口
元素分析范围: C(6)-Am(95)
分析含量范围: 1ppm-99.99%
能量分辨率: <140eV(Mn Kα)
探测器: XFlash 硅漂移探测器
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M4 TORNADOPLUS - 微区X射线荧光成像的新纪元
M4 TORNADO微区X射线荧光成像光谱仪PLUS能够检测出C(6)-Am(95)间元素的微区X射线荧光成像光谱仪。
作为微区X射线荧光成像光谱仪M4TORNADO系列的新产品,M4 TORNADOPLUS又增添了功能,例如孔径管理系统,高通量脉冲处理器以及快速灵活更换的样品台。
更轻、更快、更深
M4 TORNADOPLUS采用轻元素窗口的大面积硅漂移探测器(SDD)实现对轻元素碳的检测,高通量脉冲采样,BRUKER孔径管理系统(AMS)可以获取大景深,对表面不平整样品分析具有优势。
轻元素检测
M4 TORNADOPLUS能够检测分析轻质元素碳的微区X射线荧光成像光谱仪,具备两个具有轻元素窗口的大面积硅漂移探测器和一个优化的Rh靶X射线光管。
与普通微区X射线荧光成像光谱仪不同,M4 TORNADOPLUS在不影响较高能量范围内元素灵敏度的前提下,还可以检测原子数小于11的元素(Z<11),例如氟(F)、氧(O)、氮(N)和碳(C)。
随着功能性的增强,M4 TORNADOPLUS应用也正在开发和拓展中,例如地质学、矿物学、生物学、聚合物研究或半导体行业等方向。
应用实例-萤石和方解石的区分
萤石(CaF2)和方解石(CaCO3)都是以钙为主要成分的矿物。它们的区别在于分别存在轻质元素氟(F),氧(O),碳(C);由于普通微区X射线荧光成像光谱仪检测不到Z<11(Na)的元素,无法区分这两种矿物,所以萤石和方解石的光谱图上都只会显示Ca元素谱线。
利用轻元素探测器,M4 TORNADOPLUS可以检测氟(F)、氧(O)和碳(C),从而鉴别这两种矿物。
图:鉴别萤石与方解石
左:方解石(红)和萤石(蓝)的元素分布图;图像尺寸:20×12mm2;扫描分辨率:800×460pixels
右:萤石(蓝)和方解石(红)的轻质元素光谱图。
应用实例-电路板
由于AMS的场深度深,如图所示电路板的X射线图像获得更多的细节。此外,由于激发X射线光子的入口和出口角度减小,光束能量依赖性变得不那么明显。
图:具备AMS与不具备AMS的电路板元素分布图
左图: 标准多导毛细管聚焦在电路板上,元件的高点失焦,显得模糊。
右图: AMS系统加载下图像显示高景深,组件聚焦在更大的景深范围内。
产品货期: 45天
整机质保期: 1年
培训服务: 安装调试现场免费培训;额外提供免费培训;提供付费培训
安装调试时间: 到货后15天内
电话支持响应时间: 8小时内
是否提供维保合同: 是
维修响应时间: 1天内
节假日是否提供上门服务: 是
核心零部件货期: 3天
核心零部支持时间: 10年
是否支持上门巡检: 是
是否提供预防性维护计划: 是
是否提供期间核查方案: 是
是否提供免费应用支持: 是
是否提供付费应用支持: 是
是否提供线上售后平台: 是
维修付款方式: 先维修后付款
基本维修资料公开: 技术参数;维修手册
无理由退换货: 不支持
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