以色列 Duma Optronics M方因子快速测量设备_参数

核心参数

产地类别： 进口

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M方分析仪

M方分析系统

产品特色：

·满足所有ISO规格精度

·波段范围覆盖紫外到2.7um

·适用性强，针对脉冲和连续激光器有不同的产品

·可测高达4KW的高功率产品

·可拆卸的测量单元，单独可用

·M² 值精度: ±5%

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产品应用：

·光束传输（M方因子）

·光斑束腰位置

·光斑束腰直径

·发散角

·瑞利范围

·束腰不对称性

·散光

	M2Beam	M2Beam U3（新品）
技术	多刀口扫描式，探测器类型： silicone detector, ingaAs detector ,enhanced ingaAs	2.4百万像素CMOS相机，内置滤光轮，USB3.0接口
光谱范围（nm）	UV- Enhanced：190-1100 Si：350-1100 InGaAs：800-1800 Enhanced InGaAs：800-2700	VIS-NIR: 350-1600 特殊CMOS技术： 220-1350nm
光斑功率范围	Si:100uW-1W内置滤光片 InGaAs & UV:100uW-5mW 高功率版本：4KW	10uW-100mW内置滤光轮高功率版本：4KW
刀口数：	7	-----
光斑尺寸	最大可测25mm直径with lens (Si&UV versions)
束腰到透镜的距离	2.0-2.5m最佳最小2.0米

扫描部件装配：

结构	Aluminium
透镜焦距	300mm（632.6nm）
透镜直径	25mm
扫描步数	140
最小步长	100um
扫描长度	280mm

物理尺寸：

重量	2.5Kg
尺寸	100 x 173 x 415 mm
安装孔	M6 or ¼” screws
机械调整范围	Horizontal angle: ±1.5° Vertical angle: ±1.5°
线长	2.5m

产品内部结构图：

订购信息：

M2Beam-Si – measurement device for silicon range (350 – 1100nm)

M2Beam-UV – measurement device for silicon range (190 – 1100nm)

M2Beam-IR – measurement device for silicon range (800 – 1800nm)

M2Beam-U3 - measurement device for 220-1350 nm CMOS based SAM3-HP-M – beam sampler for high power beams

发散角测量仪（FocusGage）

型号：FG-Si，FG-UV，FG-InGaAs 3mm，FG-InGaAs 5mm
功能：测量连续激光器和激光二极管的光束参数
测量：发散角，焦深，焦距，数值孔径，束腰尺寸，束腰位置
关键词：FocusGage发散角测量仪，发散角测量系统，焦深测量系统，Duma Optronics光束质量分析仪，FocusGage Analyzer

FocusGage
光谱范围 &探测器类型	400-1100nm for Si
	190-1100nm for UV Enhanced
	800-1800nm for InGaAs
光功率范围	100μW-1W with filters for Si
光功率范围	100μW-5mW for UV & InGaAs
光斑尺寸	9mm Diameter, 12.7mm for Elliptical Beams for Si & UV
光斑尺寸	3mm & 5mm Diameter for InGaAs
设备尺寸	415×173×100mm for Scanning
设备尺寸	248×215×122mm for Controller
安装	M6 or 1/4'' Screws
机械调节	Horizontal angle ±1.5°
机械调节	Vertical angle ±1.5°
聚焦深度精度	±50μm
分辨率	Down to 10μm
订购型号	FG-Si (FocusGage Si version)
	FG-UV (FocusGage UV Enhanced version)
	FG-InGaAs 3mm (FocusGage InGaAs 3mm)
	FG-InGaAs 5mm (FocusGage InGaAs 5mm)