大塚纳米粒度仪nanoSAQLA_参数

核心参数

产地类别： 进口

粒度测量范围： 0.1nm~10μm

粒度测量重现性： ±2%

测试温度： 0~90℃

温控精度： 0.1℃

光信号频率： 638nm

粒度检测方法： 动态光散射法

样品量范围： 1.2~2.0ml

样品浓度范围： 0.00001~40%

Zeta 电位测量范围： 无

测量时间： 1sec/点

分子量测量范围： 无

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产品介绍售后服务承诺用户评论问商家

纳米粒度仪nanoSAQLA

nanoSAQLA是一台通过动态光散乱法（DLS法）测量粒径的（粒径0.6nm~10um）的装置。

支持从稀薄到浓厚系广泛浓度范围内的多检体测定的新光学系统，实现了实验室必需的轻量、小型化、标准1分钟的高速测定。

另外，这是一款非浸泡型、不受接触器影响、无需自动取样器、标准配备“5检体连续测量”的新产品。

特长

1台便可实再5个样品的连续测量

实现了在没有自动取样器的情况下难以连续测量的多个样品

可以改变每个样品的条件进行测量

可以对应从稀薄到浓厚的样品

标准测量时间1分的高度测量

自动调整从浓厚系到稀薄系样品的最佳测量位置，实现约1分钟的高速测量

配备简单测量功能(点击一键即可开始测量)

没有任何复杂的操作，简单易懂的软件

因为每个样品槽都是独立的，所以不用担心接触污染。

搭载温度梯度功能

测量范围（理论值）

粒径0.6nm～10μm

浓度范围 0.00001～40％

温度范围0～90℃*

型号	多检体纳米粒径测量系统
測量原理	动态光散射法（光子相关法）
光源	高功率半导体激光（660nm、70mW） ^*1
检出器	高感度APD
连续测量	最多5个样品
测量范围	0.6nm ～ 10μm
浓度范围	0.00001 ～ 40% ^*2
温度范围	0 ～ 90℃ （具备温度梯度功能） ^*3
样品容量	四面透光比色皿：1.2mL～、微量比色皿：20μL～
尺寸	W240 X D480 X H375 mm
电压	220V 50/60Hz、250VA
重量	约18 kg
软件	平均粒径解析（累积法解析）
	粒径分布解析
	（Marquardt法/Contin法/NNLS/Unimodal法）
	粒度分布重叠
	逆相关数残差Plot
	粒径监测
	粒径表示范围（0.1 ～ 10⁶ nm）
	分子计算机能
	21 CFR Part11对应^*4
选配	微量样品池（20μLから対応）、荧光滤光片

*1 本设备划分在激光安全基准（JIS C 6802）的等级内。

*2 Latex120nm：0.00001 ～ 10％、牛黄胆酸：～40%
*3 标准glass cell的批量测量的情况。
　　一次性cell或连续测量时， 15 ～ 40℃ （不对应温度梯度）

售后服务承诺

保修期: 1年

是否可延长保修期: 是

现场技术咨询: 有

免费培训: 1次免费培训

免费仪器保养: 不定期回访服务

保内维修承诺: 保修期内免费更换零件

报修承诺: 24小时内电话响应，48小时内到达维修现场

大塚纳米粒度仪nanoSAQLA

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