产地类别: 国产
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OCI-V是一款快速检测光学器件损耗、色散和偏振等相关参数的光矢量分析系统。其原理是采用线性扫频光源对待测器件进行扫描,并结合相干检测技术获取待测器件的琼斯矩阵,进而获得器件插损、色散、偏振相关损耗、偏振模色散等光学参数。该系统采用独特光路设计以及先进算法,实现智能校准,操作简单,极大节省测试时间。
产品特点:
自校准
测量长度:200m
波段:C+L、O波段(可选)
1秒内测量多种光学参数
产品应用:
平面波导器件
硅光器件
光纤器件
波长可调器件、放大器、滤波器
测量参数:
偏振相关损耗PDL
偏振模色散PMD
插损IL
群延时GD
色散CD
琼斯矩阵参数
光学相位
产品参数:
主要参数 | ||||
标准模式 | 高动态范围模式 | |||
测量长度1 | 200 | m | ||
波段 | C+L 波段:1525~1625;O 波段:1265~1340 | nm | ||
波长分辨率 | 1.6 | pm | ||
波长精度 | ±1.0 | pm | ||
损耗(IL) | ||||
动态范围 | 60 | 80 | dB | |
插损精度 | ±0.1 | ±0.05 | dB | |
分辨率 | ±0.05 | ±0.002 | dB | |
回损精度 | ±0.1 | dB | ||
群延时 (GD) | ||||
量程 | 6 | ns | ||
精度 | ±0.2 | ±0.1 | ps | |
损耗范围 | 45 | 60 | dB | |
色散(CD) | ||||
精度 | ±10 | ±5 | ps/nm | |
偏振相关损耗(PDL) | ||||
动态范围 | 40 | 50 | dB | |
精度 | ±0.05 | ±0.03 | dB | |
偏振模色散(PMD) | ||||
量程 | 6 | ns | ||
精度 | ±0.1 | ps | ||
损耗范围 | 40 | 50 | dB | |
硬件 | ||||
主机功率 | 60 | W | ||
通讯接口 | USB | - | ||
光纤接口 | FC/APC | - | ||
尺寸 | W 345 * D 390 * H 165 | mm | ||
重量 | 7.5 | kg | ||
储存温度 | 0 ~ 50 | ℃ | ||
储存与工作温度 | 10 ~ 40 | %RH | ||
定制功能2 | ||||
测量长度 | 100 | m | ||
空间分辨率 | 10μm@50m | 20μm@100m | μm | |
回损测量范围 | -125 ~ 0 | dB | ||
插损动态范围 | 18 | dB | ||
插、回损分辨率 | 0.05 | dB | ||
插、回损精度 | ±0.1 | dB |
备注:
1.透射模式测量长度200m,可拓展反射模式,测量长度为100m;
2.光矢量分析仪(OCI-V)可拓展OFDR功能,测量光纤链路。
保修期: 1年
是否可延长保修期: 否
现场技术咨询: 有
免费培训: 根据情况约定培训次数
免费仪器保养: 6个月1次
保内维修承诺: 免费检查更新器件
报修承诺: 48小时内
高精度OFDR设备 高分辨光学链路诊断仪OCI
型号:OCI1300/1500 面议OFDR设备 光纤长度测量仪OCI-L
型号:OCI-L 50万 - 80万OFDR-光学器件分析仪
型号:OCI-T 面议低成本光学链路诊断系统OLI
型号:OLI 面议光矢量分析仪(OCI-V)是一款快速检测光学器件损耗、色散和偏振等相关参数的光矢量分析仪。其原理是采用线性扫频光源对待测器件进行扫描,并结合相干检测技术获取待测器件的琼斯矩阵,进而获得器件插损、色散、偏振相关损耗、偏振模色散等光学参数。该产品采用独特光路设计以及先进算法,实现智能校准,操作简单,极大节省测试时间。
使用OCI1500、OCI-V和OLI均能高精度地测试出保偏光纤快慢轴时延差,并且OCI1500和OLI在测试结果表现为一致,测试的保偏光纤快慢轴时延差都是扫频波长的群时延,而OCI-V测试结果为每个波长下的保偏光纤快慢轴时延差。
东隆科技光通讯测量仪OCI-V 的工作原理介绍
光通讯测量仪OCI-V 的使用方法?
东隆科技OCI-V 多少钱一台?
光通讯测量仪OCI-V 可以检测什么?
光通讯测量仪OCI-V 使用的注意事项?
东隆科技OCI-V 的说明书有吗?
东隆科技光通讯测量仪OCI-V 的操作规程有吗?
东隆科技光通讯测量仪OCI-V 报价含票含运吗?
东隆科技OCI-V 有现货吗?
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