仪器原理: 动态光散射
分散方式: 湿法分散
产地类别: 进口
重现性: <1%
测量范围: 5nm-100µm
分辨率: 大于0.1nm
测量时间: 1-10min
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ZetaAPS纳米粒度及Zeta电位分析仪
典型应用:
综合稳定水泥浆,陶瓷,化学机械研磨,煤浆,涂料,化妆品,环境保护禅选法矿物富集,食品工业,乳胶,微乳,混合分散体系,纳米粉,无水体系,油漆成像材料。
主要特点:
1)能分析多种分散物的混合体;
2)无需依赖Double Layer模式,精确地判定等电点;
3)可适用于高导电(highly conducting)体系;
4)可排除杂质及对样品污染的干扰;
5)可精确测量无水体系;
6)Zeta电位测试采用多频电声测量技术,无需先测量粒度即可进行电位测量;
7)样品的高浓度可达60%(体积比),被测样品无需稀释,对浓缩胶体和乳胶可进行直接测量;
8)具有自动电位滴定功能;
ZetaAPS纳米粒度及Zeta电位分析仪
优于光学方法的技术优势:
1)被测样品无需稀释;
2)排除杂质及对样品污染的干扰;
3)不需定标;
4)能分析多种分散物的混合体;
5)高精度;
6)所检侧粒径范围款从5 nm至1000um
ZetaAPS纳米粒度及Zeta电位分析仪
优于electroactics方法的技术优势:
1)无需定标;
2)能测更宽的粒径范围;
3)无需依赖Double Layer模式
4)无需依赖( electric surface properties)电表面特牲;
5)零表面电荷条件下也可测量粒径;
6)可适用于无水体系;
7)可适用于高导电(highly conducting)体系;
优于微电泳方法的技术优势:
1)无需稀释,固合量高达60%;
2)可排除杂质及对样品污染的干扰;
3)高精度(±0.1mv);
4)低表面电荷(可低至0. 1mv);
5)electrosmotic flow不影响测量;
6)对流(convection)不影响测量;
7)可精确测量无水体系;
ZetaAPS纳米粒度及Zeta电位分析仪
技术参数:
1)所检测粒径范围宽:从5 nm至1000um;
2)可测量参数:粒度分布、固含量、Zeta电位、等电点IEP、E5A、电导率、PH、温度、声衰减;
3)Zeta电位测量范围:+/-200 mv,低表面电荷(可低至0. 1mv),高精度(±0.1mv);
4)零表面电荷条件下也可测量粒径;
5)允许样品浓度:0.1-60%(体积百分数);
6)样品体积:30-230ml;
7)PH范围:0~14;
8)电导率范围:0~10 s/m
用户单位 | 采购时间 |
---|---|
上海巴斯夫 | 2019-11-21 |
保修期: 1年
是否可延长保修期: 是
现场技术咨询: 有
免费培训: 安装现场免费培训,定期线下免费培训
免费仪器保养: 终身免费保养
保内维修承诺: 报备出现问题,免费维修
报修承诺: 24小时电话响应报修
Zeta-APS 高浓度纳米粒度及Zeta电位分析仪
型号:Zeta-APS 50万 - 100万ZetaFinder ZF400 高浓度Zeta电位分析仪
型号:ZetaFinder ZF400型 50万 - 100万APS100高浓度纳米粒度仪
型号:APS-100型 100万 - 200万CHDF4000高分辨率纳米粒度仪
型号:CHDF4000型 100万 - 150万测Zeta电位为什么不能稀释?在水相介质中,Zeta电位通常是由于粒子表面的离子离解而产生的,在表面附近留下一个被反离子云包围的净电荷。
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