产地类别： 进口
粒度测量范围： 0.1nm~10μm
粒度测量重现性： ±2%
测试温度： 0~90℃
温控精度： 0.1℃
光信号频率： 660
粒度检测方法： 动态光散射法
样品量范围： 20μL~
样品浓度范围： 0.001~40%
Zeta 电位测量范围： -200mv~+200mv
测量时间： 1sec/点
分子量测量范围： 360~20M
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zeta电位·粒径·分子量测量系统
大塚ELSZ-2000可测量低浓度溶液～高浓度溶液的ZETA电位、粒径及分子量。
粒径测量范围（0.6nm～10μm），浓度范围（0.00001%～40%）。实测电气渗透流，高精度的ZETA电位测量，最小容量是130μL～的一次性样品池。另外在0～90℃的大的温度范围内，测量自动温度的梯度空间，分析变性、相转移温度。
产品特点：
使用了最新型高感度APD，感度提升及缩短测量时间
通过测量自动温度梯度空间，可分析出变性、相转移温度
可测量0～90℃大范围内的温度
追加了大范围的分子量测量及解析功能
悬浊类高浓度样品的粒径、ZETA电位的测量
实测cell内的电气渗透流，解析plot，提供高精度的ZETA 电位测量结果
高盐浓度溶液的ZETA电位测量
小面积样品的平板ZETA电位测量
用途：
适用于界面化学、无机物、半导体、高分子、生物、药学、医学领域中，除了微粒子外，膜及平板状样品的表面科学的基础研究、应用研究。
新功能性材料领域
燃料电池相关（碳纳米软管、富勒烯、功能性膜、触媒、纳米金属）
生物纳米相关（纳米胶囊、人造分子、DDS、生物纳米粒子）、纳米气泡等
陶瓷、色材工业领域
陶瓷（二氧化硅、氧化铝、氧化钛等）
无极胶体溶液的表面改质、分散、凝集控制
颜料（炭黑、有机颜料）的分散、凝集控制
悬浊状样品
半导体领域
查明附着在硅体晶圆的异物的结构
研磨剤或添加剤和晶圆表面的相互作用的研究
CMP悬浊液
高分子、化学工业领域
Emulsion（塗料、胶水）的分散、凝集控制、乳胶的表面改质（医药 用、工业 用）
高分子电解质（聚乙烯磺酸盐、聚碳酸等）功能性的研究、功能性纳米粒子
纸浆的制纸工程控制及纸浆添加材料的研究
医药 品、食品工业 领域
Emulsion（食品、香料、医療、化妆品）的分散、凝集控制、蛋白质的功能性
脂质体、囊泡的分散、凝集控制、界面活性剤（胶粒）的功能性
设备参数：
ELSZ-2000Z测量原理： 雷射都卜勒法（Laser Doppler）
光源： 高功率、高稳定性半导体镭射
感光元件: 高感度APD
样品容器: 标准样品容器、微量(130μl~)可拋式样品容器或高浓度样品容器
温度范围: 0 ~ 90℃ （具备梯度功能）
电源规格: 100V ± 10% 250VA，50 / 60 Hz
尺寸: 380（W） × 600（D） × 210（H）mm
重量: 约22kg
测量范例：
印表机墨水界达电位测量
使用平板样品容器的测量范例
微量可拋式样品容器的测量范例
隐形眼鏡平板电位解析
毛髮樣品界達電位解析
选配附件：
pH滴定仪系統（ELSZ-PT）
• 平板样品容器
•界达电位用中、高浓度样品容器•界达电位用低介电常数样品容器
•界达电位用微量可拋式样品容器
保修期: 1年
是否可延长保修期: 是
现场技术咨询: 有
免费培训: 1次免费培训
免费仪器保养: 不定期回访服务
保内维修承诺: 保修期内免费更换零件
报修承诺: 24小时内电话响应，48小时内到达维修现场
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