● 空间分辨率：20μm
● 测量长度：20m
● 中心波长：1550nm
● 插损、回损分析
● 无源器件插损、回损测量
● 硅光芯片插损、回损测量
● 平面波导器件测试
● 光学链路分析、诊断
产品参数
型号 | OCI-T | 单位 |
测量长度1 | 20 | m |
空间分辨率2 | 20 | μm |
波长扫描范围 | 40 | nm |
中心波长 | 1550 | nm |
波长精度 | 1.0 | pm |
回损动态范围 | 65 | dB |
回损测量范围 | -130~0 | dB |
回损灵敏度 | -130 | dB |
回损测量精度 | ±0.5 | dB |
插损动态范围3 | 13 | dB |
插损测量精度 | ±0.5 | dB |
输入电压 | AC 220/110V; DC 12V | - |
主机功率 | 60 | W |
通讯接口 | USB | - |
光纤接口 | FC/APC | - |
尺寸 | W345 * D390 * H 165 | mm |
重量 | 7.5 | kg |
储藏温度 | 0~50 | ℃ |
工作温度 | 10~40 | ℃ |
工作湿度 | 10~90 | %RH |
备注：
保修期: 1年
是否可延长保修期: 否
现场技术咨询: 有
免费培训: 根据情况约定培训次数
免费仪器保养: 6个月1次
保内维修承诺: 免费检查更新器件
报修承诺: 48小时内
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