光谱范围： 紫外
按探测器： CCD
产地类别： 国产
光谱范围： 185-1100nm
分辨率： 0.2-10nm
灵敏度： ~0.32 Counts/e-
信噪比： 450:1
动态范围： 12000:1
杂散光： ＜0.1% @602nm
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EK2000-Pro光纤光谱仪
产品参数
u 探测器
参数 | 指标 |
探测器名称 | Hamamatsu S10420 |
探测范围 | 200~1100 nm |
像素数量 | 2048 x 64 |
构架 | 面阵背照式 |
探测器面积 | 高0.896 mm，宽28.672 mm |
阱深 | 200 ke- |
峰值量子化效率 | 75% |
QE@250 nm | 65% |
杂散光 | ＜0.05%@600 nm；＜0.10%@435 nm |
u 光谱特性
参数 | 指标 |
波长范围 | 视光栅而定 |
信噪比 | 450:1 |
A/D位数 | 16 bits,500 KHZ |
非线性度 | ~4.0% |
动态范围 | 10000:1 |
积分时间 | 最小积分时间7ms |
杂散光 | 0.2% @ 602 nm |
矫正线性度 | > 99% |
产品性能
? USB2.0 @ 480 Mbps接口，USB供电
? 微型化，便于携带与系统集成
? 面阵背照式FFT-CCD
? 宽谱段效率均衡，最宽范围可达200~1100 nm
? 独特的内部交叉光路设计，有效地抑制杂散光的形成
? 光学分辨率可至~0.035 nm（FWHM）
? 可选消高阶滤光片用于滤除二阶及三阶光谱峰
? 可选探测器聚光镜，用于增强信号收集
型号说明
型号 | 说明 |
EK2000-Pro | 依赖光栅选择不同波段 |
EK2000-Pro-EX | 全波段200~1100 nm |
典型图谱
镀膜玻璃测试，使用EK2000-Pro 和积分球IS30-6T
| 用户单位 | 采购时间 |
|---|---|
| 南京工业大学 | 2015-03-18 |
| 山东计量院 | 2015-05-20 |
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