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Argus系列X光平板探测器探测器采用应用在航天领域的TDI CCD技术。结合X-ray成像，研制出来的高性能X射线成像探测器。整个探测器从上到下分别为闪烁屏（scintillator），光纤面板（FOP），CCD芯片和基底。主要应用Gadox闪烁屏，其主要优点是余晖时间短，CsI闪烁体可选。主要特点包括：TDI技术实现的图像品质、光纤耦合方式保护CCD免受X射线损伤、80dB高动态范围。可广泛应用于工业无损检测、PCB检测、食品检测、药品检测、安检、科研等。
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产品列表
型号 | 水平分辨率 | 垂直分辨率 | 数据接口 | 彩色/黑白 | 帧频/行频 |
5580 | 256 | GigE | Mono | 2kHz | |
8160 | 256 | GigE | Mono | 2kHz |
典型应用：
工业无损检测；
PCB检测；
食品检测；
药品检测；
安检；
科学等。
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