HORIBA SZ-100 纳米粒度/Zeta电位分析仪

仪器简介：

SZ-100 是 HORIBA Scientific 最新推出的纳米粒子解析装置，可更高灵敏度、高精度地评价单一纳米粒子，并能完全解析纳米粒子的物质结构。该仪器被广泛应用于陶瓷粒子、金属纳米粒子、石炭、制药、病毒、颜料和涂料、化妆品、聚合物、食品和 CMP 等的检测。

高灵敏度、高精度的测量
全方位表征单一体系纳米尺度粒子
完全解析纳米粒子的物质结构

应用范围 
● 陶瓷粒子　● 金属纳米粒子　● 碳黑　● 制药　● 病毒　● 涂料
● 化妆品　　● 聚合物　　 　 ● 食品　● ＣＭＰ● 颜料、油墨

技术参数：

粒子直径测定
● 超宽动态光散射测量范围:　0.3nm～8000nm
●通过采用与NEDO国家项目共同开发的相关器，实现高性能化。
●在单一纳米粒子专用光学系统中，采用更低杂散光90°检测光学系统。
●双光路系统（90°和173°）适用于更宽浓度范围的样品测量，可以进行釉浆、颜料等高浓度样品以及胶束、聚合物等低浓度样品的测定。

Zeta电位测定
●通过安装HORIBA自主研发的标准微型样品池，可以测定仅100μL的样品。

主要特点：

●超小体积设计
● 可测纳米粒子的三个重要要素——粒子直径、Zeta电位和分子量。
●样品浓度从PPM到百分之几十，SZ-100都能在原液状态下取样和测定。
●HORIBA自主研发的微量电泳样品池， 可以测定仅100μL的Zeta电位。
●广泛应用于胶质粒子、 机能性纳米粒子、 高分子、胶束、 核糖体、 纳米囊等的测定。
●操作简单，进样、设定参数后，只要按开始按钮即可得到测量结果。