看了null的用户又看了
分辨率 | |
扫描透射像1) | 0.08 nm2) (加速电压为200kV时) |
透射像 点分辨率 线分辨率 |
0.19 nm (加速电压为200kV时) 0.11 nm (使用成像系统球差校正器3), 加速电压为200kV时) 0.10 nm |
放大倍率 | |
扫描透射像 | 200 至 150,000,000x |
透射像 | 50 至 2,000,000x |
电子枪 | 肖特基场发射枪 |
加速电压 | 80 至 200 kV4) |
样品台 | |
样品台 | 全对中侧插式测角台 |
样品尺寸 | 直径3mm |
样品倾斜角 | 最大25°(使用双倾台) |
移动范围 | X/Y:±1.0mm(马达驱动) |
球差校正器 | |
照明系统的球差校正器(STEM) | 标准配置 |
成像系统的球差校正器(TEM) | 选配件 |
选配件 |
能谱仪(EDS) 电子能量损失谱仪 (EELS) CCD 相机等 |
Spectra S/TEM 扫描透射电子显微镜
日本电子 JEOL 自动进样场发射透射电镜JEM-F200
日本电子JEOL 冷场发射12极子球差校正透射电镜 JEM-ARM300F2
日立200kV球差校正透射电镜HF5000
日本电子 JEOL 高通量场发射透射电子显微镜 JEM-ACE200F
德国Elmitec光发射电子显微镜含能量分析仪PEEM
南通宏腾微电子技术有限公司
核磁共振光谱仪 400 MHz NMR系列
先驰精密仪器(东莞)有限公司
日本电子JEOL-120KV 透射电子显微镜JEM-120i
日本电子株式会社(JEOL)
阴极发射体
上海昊量光电设备有限公司
最多添加5台