您现在的位置:首页 > 资料中心 > 课件讲义下载 > 拉曼光谱测定半导体膜晶格损伤 下载

拉曼光谱测定半导体膜晶格损伤

简介:半导体是日前应用极广泛的一种材料,它可以说涉及到我们生活的方方面面。虽然,半导体的发现和应用时间不长,但它的重要性已被人们广为关注。日前,关于半导体的研究还在深入进行,拉曼光谱对半导体的研究也在进行,并已取得了一些成果。
  • 所需积分:0 分
  • 下载次数:4 次
  • 获取积分:页面上方
  • 资料大小: 369 KB
  • 上传人: CSEPAT
  • 上传日期:2019-03-07
相关阅读
  • 资料微信群
  • 我的下载

相关评论

您的评论:推荐
还可以输入500
    上传资料
    一键询价
    仪器信息网资料中心栏目所发布的一切文档、图谱等资源仅限于学习和研究目的,版权归原属作者所有;不得将上述内容用于商业或者非法用途,否则,一切后果请用户自负。您必须在下载后的24个小时之内,从您的电脑中彻底删除上述内容。如果您喜欢该资源,请支持正版,以便得到更好的正版服务。如有侵犯到您的权益,请联系我们(download@instrument.com.cn)处理,感谢您的合作!

    安装App资料免费下

    资料微服务您的资料助手