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半导体元件测试系统

简介：半导体元件测试系统是一套应用在半导体测试行业中进行高温低温测试的系统，其中温度范围比较宽，低温可达-45℃，高温可达250℃，半导体元件测试系统整个系统为全密闭系统，高温时不会有油雾、低温不吸收空气中水分，系统在运行中不会因为高温使压力上升，低温自动补充导热介质。
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