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利用ICP-MS 评估水样中锶双电荷对钙的影响

简介：NexION 2000 ICP-MS 的通用池技术可以使用各种高纯高反应性气体对质谱干扰进行去除，对于40Ca，可以使用100%纯氨气（第一电离能10.16 eV）对40Ar（第一电离能15.76 eV）进行去除，获得亚ppb 级的检出限。这得益于NexION 2000 可以调谐和优化通用池四极杆的RPq 参数，使得高反应性气体的各种副产物干扰被彻底去除。
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