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原子力显微镜扫描电镜关联成像在纳米颗粒、石墨烯的三维表面形貌，深度轮廓，表面粗糙度测量应用

简介：LiteScope显微镜优势 整合了AFM和SEM的技术优势，首创型的同步原子力和电镜的成像 获得前所未有的图像信息 即插即用的解决方案–方便使用 整合表面特征的工具 SEM – 图像, 化学分析, 表面修饰 AFM – 3D 表面形貌，粗糙度，导电性，电子特性 相关显微镜 – CPEM (探针显微镜和电子显微镜关联)
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  • 上传人： 广州科适特科学仪
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