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如何使用耗散型石英晶体微天平测量质量和厚度？

简介： 在表面相互作用过程中，例如分子的结合、吸附、解吸、聚集和多层膜的堆积、分子层的质量和厚度发生变化。通过实时监测这些变化，我们可以监测分子结合的过程和重排。为了在分子尺度上测量这些变化，我们需要实时的纳米级技术。该技术就是耗散型石 详细>
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