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药物片剂表面的异物分析

简介：本文使用自动缺陷分析系统 AIM-9000 对药物片剂表面的异物进行了定性分析。异物暴露于片剂表面时采用 ATR 法，掩埋于内部时、或难以与 ATR 晶体接触时采用透射法测量，由此完成了对异物的定性。通过使用 Micro Vice Holder 和 Diamond cell 等配件，能对各种状态的异物进行分析。
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