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如何用QCM-D测量表面的吸附和解吸附

简介:吸附可以被看做是分子从液体或气体中“粘附”到表面上。解吸附是一种相反的现象,是指已经吸附在表面上的分子从表面脱落的现象。QCM-D技术,本质上是一个用于称量极小质量的天平,可以通过检测表面上由于分子增加或脱落而引起的质量变化,从而实时监测表面上分子的吸附和解吸过程。
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