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X射线荧光光谱法测定铝用碳素材料中微量元素

简介：采用粉末压片法制样,选用预焙阳极、石油焦标准样品,采用Ｘ 射线荧光光谱法对样品中的Ｓ,Ｖ,Ｓｉ,Ｆｅ,Ｎａ,Ｃａ,Ｎｉ,Ｔｉ,Ａｌ,Ｐ,Ｐｂ,Ｋ,Ｍｇ,Ｃｌ,Ｍｎ,Ｃｒ,Ｃｕ,Ｚｎ等元素进行测定。讨论了样品研磨时间、粒度对测量强度的影响、光谱背景、元素间谱线重叠干扰和基体效应。
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