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粉末衍射分析在高聚物结构参数测定中的应用

简介：x射线衍射在高聚物研究中的应用非常广 泛，主要有两个方面：其一是高聚物材料的相 分析，包括高聚物材料本身和各种添加剂的物相分 析；其二是聚集态结构参数的测定，如聚合物结晶度 和取向度的测定、晶粒尺寸测定等。其它的应用还 有应力测定、x射线小角散射分析等。对于薄膜、纤 维等样品需要专门的薄膜、纤维、拉伸等附件。
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