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s-SNOM 近场光学显微镜应用案例

简介:散射式近场光学显微镜(s-SNOM)是一种先进的近场光学技术,使用金属镀层AFM探针代替传统光纤探针来增强和散射样品纳米区域内的光辐射,从而获得更高的空间分辨率。s-SNOM广泛适用于无机物和有机物,用于表面等离子光子学,激子极化子,强电子光联材料,纳米天线,超结构等的研究。
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