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PerkinElmer：ATR光谱的取向效应

简介：在ATR测试过程中，发生全反射的红外光在晶体表面之外产生渐逝电场。该渐逝电场在空间各个方向均存在分量，但是强度不一，使得ATR光谱容易受到样品中各向异性因素的影响。因此，样品红外谱带的相对强度可能随其放置方式而改变。此效应已经被用于 详细>
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