合集 标准 方法 手册 讲义 报价单 谱图库 更多 标准查询 今日免费资料 论文索引
您现在的位置：首页 > 资料中心 > 分析方法/应用文章下载 > 基于成像光谱技术对苹果斑点及损伤快速识别研究 下载

基于成像光谱技术对苹果斑点及损伤快速识别研究

简介：采用高光谱图像技术检测苹果的黑白斑区域及损伤区域，以实现苹果黑白斑、损伤区域快速识别的目的。 运用高光谱成像技术，运用最小噪声分离、植被指数等方法等，均可有效地识别水果损伤与斑点区域，但最小噪声分离方法较为复杂，运算速度较慢，不适合在工业生产上进行应用，而植被指数算法简单，仅利用2个波段进行四则运算即可实现水果损伤和斑点的快速识别。
  • 所需积分：0 分
  • 下载次数：1 次
  • 获取积分：页面上方
  • 资料大小: 606 KB
  • 上传人： 北京卓立汉光仪器
  • 上传日期：2017-07-31
收藏资料 (0)
评论 (0)
举报
  • 资料微信群
  • 我的下载

热门资料

最新资料

最新方案

相关产品

相关评论

您的评论:推荐
发表评论
还可以输入500字

    品牌合作伙伴

    岛津
    日立科学仪器
    珀金埃尔默仪器（上海）有限公司（PerkinElmer）
    日本电子株式会社
    丹纳赫
    安捷伦
    赛默飞世尔科技
    普析通用
    欧波同
    天美
    天瑞仪器
    德国耶拿
    海能技术
    马尔文帕纳科
    磐诺科技
    上海仪电科仪
    梅特勒托利多
    聚光科技
    莱伯泰科
    盛瀚
    多宁生物
    丹东百特
    科哲
    卓立汉光
    屹尧科技
    华谱科仪
    宝德仪器
    优莱博
    HORIBA
    布鲁克核磁
    上传资料
    一键询价

    下载该资料的还下载

    更多>>推荐会议

    更多>>推荐课程

    上传者上传的其他资料

     下载排行

    本周
    本月
    全部
    仪器信息网资料中心栏目所发布的一切文档、图谱等资源仅限于学习和研究目的，版权归原属作者所有；不得将上述内容用于商业或者非法用途，否则，一切后果请用户自负。您必须在下载后的24个小时之内，从您的电脑中彻底删除上述内容。如果您喜欢该资源，请支持正版，以便得到更好的正版服务。如有侵犯到您的权益，请联系我们（download@instrument.com.cn）处理，感谢您的合作！

    安装App资料免费下

    资料微服务您的资料助手