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北京大学高鹏研究员使用JEM-ARM300F在皮米尺度精确测量表面结构方面取得重要研究进展

简介：ABF是日本电子（JEOL）于2009年发明的一种新的STEM成像技术，与传统的STEM HAADF 技术只能表征重元素相比，ABF对轻元素的表征具有独特优势。高鹏研究员他们最新的研究成果是通过将超高分辨的ABF图像定量化，在皮米（0.001纳米）尺度上精确测量阴、 详细>
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