您现在的位置:首页 > 资料中心 > 分析方法/应用文章下载 > 改进的挥硅_ICP_MS法测定高纯四氯化硅中金属杂质 下载

改进的挥硅_ICP_MS法测定高纯四氯化硅中金属杂质

简介:本文对钛厂回收副产物高纯四氯化硅中的9种金属杂质进行了测定。采用密封针管取样,转移塑料挥气 瓶中,恒温水浴锅控制温度(57℃)通入干燥惰性气体(N2 ) ,在塑料挥气瓶挥去基体四氯化硅,富集的金属加入硝 酸转变成溶液后定容,用电感耦合等离 详细>
  • 所需积分:10 分
  • 下载次数:55 次
  • 获取积分:页面上方
  • 资料大小: 151 KB
  • 上传人:toudada
  • 上传日期:2007-11-21
相关阅读
  • 资料微信群
  • 我的下载

相关评论

您的评论:推荐
还可以输入500
    上传资料
    一键询价
    仪器信息网资料中心栏目所发布的一切文档、图谱等资源仅限于学习和研究目的,版权归原属作者所有;不得将上述内容用于商业或者非法用途,否则,一切后果请用户自负。您必须在下载后的24个小时之内,从您的电脑中彻底删除上述内容。如果您喜欢该资源,请支持正版,以便得到更好的正版服务。如有侵犯到您的权益,请联系我们(download@instrument.com.cn)处理,感谢您的合作!

    安装App资料免费下

    资料微服务您的资料助手