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X射线荧光光谱分析测定化探样品中34个主、次和痕量组分

简介：采用粉末样品压片制样，用PANalytical PW2440\4400X射线荧光光谱仪对化探 样品中，氯、溴、硫、氧化钠、氧化镁、三氧化二铝、二氧化硅、磷、氧化钾、氧化钙、钛、锰、三氧化二铁、钴、铌、锆、钇、锶、铷、铅、钍、锌、铜、镍、钒、铬、钡、镧、铈、钕、钪、镓、砷、铪等34个 详细>
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