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硫化铟薄膜材料的拉曼光谱研究

简介：本文通过分析304 cm-1、930 cm-1处拉曼峰位的红移进一步证实了Cu掺杂后薄膜晶粒尺寸增大， 通过缺陷程度的变化证明了Cu掺入 晶格间隙的掺杂机理。 激光显微共聚焦拉曼光谱技术是一种无损伤、无接触、灵敏度高的检测手段，通过晶体的拉曼光 谱可以了解晶格内部有关化学键、晶格程度、晶格畸变以及相变等信息，为薄膜在太阳能电池、导 电材料、光电器件、催化、传感等领域的应用提供理论指导与实验依据。
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  • 上传人： 北京卓立汉光仪器
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