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QCM-D和椭偏仪联用检测吸附薄膜

简介：多种不同的表面检测技术可以让我们得知分子膜在芯片表面的形成过程已经薄膜性质。随着技术的日新月异的发展，一种技术已经不能让我们对检测的表面有全面的了解。而多种技术的联用提供了互补的信息，让我们可以对研究的物质有更客观的了解。在本文中论述了如何在一个实验中将QCM-D技术与椭偏技术结合来检测吸附分子层的特性。
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