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梅特勒托利多 新超越系列XPE分析天平单页样本

简介：XPE分析天平提供卓越的分析称量性能，并满足至高的安全性、效率且易于合规。XPE分析天平重复性低，因此提供更小的称量值。 质量管理特性，例如创新的StatusLightTM状态指示灯和获得专利的taticDetectTM静电检测技术，可免除您在称量方面的担忧并对获得值得信赖的结果。 凭借各种选配件和多个接口选件，XPE天平可满足您日益增长的需求。您可在今后数年进行各种称量。 瑞士设计与制造，卓越的品质值得您信赖。
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