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X-荧光分析的固体材料的样品制备

简介：X-射线荧光是确定样品成分的最通用的方法。曝露在X- 射线下的样品，每个样品成分将产生独一无二的X-荧光射线。接下来的分析结果是将标准品与所给化学品进行比较。材料的样品制备变的越来越重要，因为在过去的几年当中，软件和X射线设备提高了追踪分析检测限度，因此颗粒尺寸非常关键，需要达到20微米到60微米之间，颗粒大小影响结果非常显著，随着颗粒尺寸的增加，X-射线强度减弱。
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