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日立EA1000AIIIXRF萤光分析仪测定重金属

简介：1.各大厂认可针对塑料及电子元件中有害重金属检测之X射缐萤光分析仪 2.采用高灵敏度矽半导体侦测，无须液态氮 3.配备CCD监视器 4.具备形状、厚度、材质补正技术(Seiko专利) 5.超低检测下限的(Cd：1.9ppm；Pb： 0.9ppm) RoHS/WEEE (1)满足 详细>
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