您现在的位置:首页 > 资料中心 > 仪器样本下载 > 大型LCD WAFER表面污染度测定领域 GLOBAL LEADER 下载

大型LCD WAFER表面污染度测定领域 GLOBAL LEADER

简介:(株)SEO是韩国国内最初生产非破坏方式表面分析装备-接触角分析仪的企业。1998年起通过2年的时间开发接触角分析仪,在韩国国内的市场占有率达到了90%以上,并且其性能也在海外市场受到认可,是一家独一无二的分析仪器制造企业。与以表面分析相关设备而著名的德国﹑美国具有相当的竞争力的SEO,更加能够突出其技术力﹑营销能力。
  • 所需积分:0 分
  • 下载次数:285 次
  • 获取积分:页面上方
  • 资料大小: 118 KB
  • 上传人: 辰诚贸易(上海)
  • 上传日期:2007-03-07
  • 资料微信群
  • 我的下载

相关评论

您的评论:推荐
还可以输入500
    上传资料
    一键询价
    仪器信息网资料中心栏目所发布的一切文档、图谱等资源仅限于学习和研究目的,版权归原属作者所有;不得将上述内容用于商业或者非法用途,否则,一切后果请用户自负。您必须在下载后的24个小时之内,从您的电脑中彻底删除上述内容。如果您喜欢该资源,请支持正版,以便得到更好的正版服务。如有侵犯到您的权益,请联系我们(download@instrument.com.cn)处理,感谢您的合作!

    安装App资料免费下

    资料微服务您的资料助手