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台式扫描电镜迫近高端光学显微镜

简介:
    2006年11月初,在乌得勒支市召开的“HET Instrument trade show”上,FEI Co 向全球发布了该公司崭新的PhenomTM台式扫描电子显微镜,该产品将主要用于材料分析方面。对于FEI公司而言,这是一款具有突破性的产品,它将以 详细>
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