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微柱预富集 ICP—AES测定高纯银中

简介：提出了以纳米 FiO:作为富集材料填充 自制 的微 柱 ,同时分离富集高纯银 中的 多种 杂质离子 Cu,cr,Mn,Ni,AI的 方法 ,结合 电感耦合等离子体一原子发射光谱法 (ICP—AES)~U定 .本 文主 要考察了影响 富集和洗 脱的主要因素 .确定了纳米 TiO:富集 ,解脱金属离子的最佳实验条件 .并应用于标 准样 品和实际 样品一高纯银 中杂 质含 量的测定 .取得了很 好的效果 .
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