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集成颗粒捕集技术是 PLOT色谱柱用于 GC/MS 分析的坚强后盾

简介:很多分析人员都不愿将多孔层开管(PLOT)色谱柱用于 GC/MS 分析,因为这类色谱柱的填料颗粒可能会脱落,从而导致流路堵塞、色谱柱切换阀损坏或污染检测器。他们会尽量避免在气质联用分析中使用 PLOT 色谱柱,或是不得不采用繁琐复杂的方法。 现在,这种状况即将改变。Agilent J&W PLOT PT 色谱柱的两端采用了安捷伦专有的颗粒捕集技术。这项专利技术真正消除了颗粒脱落的问题,使石化行业更好地受益于 PLOT 色谱柱的分析性能。
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  • 上传人: 安捷伦
  • 上传日期:2014-03-07
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