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非球形物质粒度分析测试最领先的技术---PIDS

简介： 贝克曼库尔特公司LS™系列粒径分析仪采用一种complimentary散射技术来分析亚微粒子，这种技术将通过具体实例来解释用PIDS系统是如何对非球形粒子进行分析的。 偏振强度差示散射是一个球状亚微粒子粒径分析的精确的并且可用的技术。即使对于非球状亚微粒子，尽管所有的用于非球状亚微粒子的散射技术都受到限制，这项技术还是可以获得非常有意义的数据。
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