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压力与接触程度的变化对ATR光谱质量的影响

简介： 近年来，ATR（衰减全反射）技术已经逐渐成为红外光谱测试的常用方法。采样晶体与样品的接触程度对光谱的影响问题一度使该技术仅适用于液体和较软的固体，而现在使用小尺寸晶体的采样附件极大地减弱了这一影响，同时金刚石晶体的硬度和化学惰性 详细>
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