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简介:SZ-100可以方便的分析纳米材料的诸多性质如粒径、Zeta电位、分子量等,进而可以研究纳米材料的分散性、稳定性等;基于HORIBA公司独特的光学设计,SZ-100最好的测量性能和最宽的测量范围(0.3nm-8 μm)不仅仅能满足实验室需求同时还能应用于工厂生
简介:SZ-100可以方便的分析纳米材料的诸多性质如粒径、Zeta电位、分子量等,进而可以研究纳米材料的分散性、稳定性等;基于HORIBA公司独特的光学设计,SZ-100最好的测量性能和最宽的测量范围(0.3nm-8 μm)不仅仅能满足实验室需求同时还能应用于工厂生产的高质量控制。 主要特点: 1、 最宽测量范围:0.3 nm to 8,000 nm (8 μm) max 宽测量范围,从亚纳米大小(分子尺寸大小)到微米尺寸可用SZ-100一台分析仪即可 2、 最少样品量:测量Zeta电位仅需100μL,测量粒径大小仅需12μL 非常适用于珍贵样品如生物材料和纳米材料样品 3、 分析少量的稀溶液有最高的灵敏度。 装备高强度激光光源及独特的Horiba光学系统设计,因而光噪音更低,灵敏度跟高 4、 一台仪器即具备测量粒径、Zeta电位、分子量三种纳米颗粒研究最重要参数功能 主要应用: 陶瓷纳米颗粒、金属纳米颗粒、碳黑、制药、病毒研究、涂料、聚合物、食品、化学机械抛光、染料、胶体、蛋白质等
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