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SZ-100 纳米粒度分析仪

简介:SZ-100可以方便的分析纳米材料的诸多性质如粒径、Zeta电位、分子量等,进而可以研究纳米材料的分散性、稳定性等;基于HORIBA公司独特的光学设计,SZ-100最好的测量性能和最宽的测量范围(0.3nm-8 μm)不仅仅能满足实验室需求同时还能应用于工厂生 详细>
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  • 上传人: 东方科捷
  • 上传日期:2013-06-10
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