您现在的位置:首页 > 资料中心 > 分析方法/应用文章下载 > 荧光寿命测试技术-时域或频域 下载

荧光寿命测试技术-时域或频域

简介: 荧光寿命与物质所处微环境的极性、粘度等条件有关,因此可以通过荧光寿命直接了解所研究体系发生的变化。本文从原理、仪器及应用方面介绍了荧光寿命测量的两种方法-时域、频域。
  • 所需积分:0 分
  • 下载次数:22 次
  • 获取积分:页面上方
  • 资料大小: 283 KB
  • 上传人: HORIBA Jobin Yvo
  • 上传日期:2013-02-21
  • 资料微信群
  • 我的下载

相关评论

您的评论:推荐
还可以输入500
    上传资料
    一键询价
    仪器信息网资料中心栏目所发布的一切文档、图谱等资源仅限于学习和研究目的,版权归原属作者所有;不得将上述内容用于商业或者非法用途,否则,一切后果请用户自负。您必须在下载后的24个小时之内,从您的电脑中彻底删除上述内容。如果您喜欢该资源,请支持正版,以便得到更好的正版服务。如有侵犯到您的权益,请联系我们(download@instrument.com.cn)处理,感谢您的合作!

    安装App资料免费下

    资料微服务您的资料助手