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高速高效能的三雷射系统粒径分析仪

简介：宽广的测量范围采用专利的三雷射光源，测量范围宽达0.02-2,800μm，固定多元侦测器配合三雷射光源，同步收集全范围的散射光信号，高精密度独家引进非球形颗粒的Mie理论校正因子，内建常用物质光学数据，提高测试精密与准确度，友善的用户接口新型迷你样品循环系统，大幅减少操作所需有机溶剂，保护操作者安全，亲切的软件操作接口，数据计算全自动。
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