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牛津台式镀层测厚仪X-Strata920样本

简介： 快速可靠的X射线荧光镀层厚度测量及材料分析，低成本、高效率！ 功能强大、性能可靠且操作简单的能量色散型X射线荧光光谱仪，确保品质的同时降低成本。 X射线荧光分析的优点 • 最少或无需样品制备 • 无损分析　 • 详细>
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