X射线荧光光谱法（30）:XRF分析中的基体效应及其校正-2_免费下载__资料中心

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X射线荧光光谱法（30）

5 XRF分析中的基体效应及其校正-2

5.2 均匀样品的XRF定量分析及其校正

样品定量分析包括两个彼此无关的因素：一种因素与测量前样品的制备有关，这将在后面专题讨论；另一种与荧光强度测量和浓度确定有关。

荧光强度测量原则上是测定整个分析线峰的积分强度。在能量色散光谱法中，由于整个X射线光量子是同时进入探测器，所以测量积分强度是很容易的。但在波长色散光谱法中，由于晶体衍射到探测器里的波长仅是整个波长分布中的一部分，所以测量积分强度是很不方便且费时的，在实际工作中以测量分析线2θ角上的最大的峰强度来代表谱线的积分强度。

在测量强度之前，激发源（X光管）、探测器、电子元件必须预热30min以上。在预热期间，要求X光管在激发条件下工作，探测器、流气正比计数器和其他电子元件均应处在工作状态，待测量条件达到稳定状态后再进行测量。为了进行精密测量，有时还需对探测器读数进行死时间校正。

从样品的荧光强度测量值得到正确的浓度，可以用所谓数学校正法来实现，这类方法基于用计算法消除共存元素影响的。用比较法补偿共存元素的影响。

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