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4 定量分析方法-1
X射线荧光分析法基本上就是一种测量样品产生的X射线荧光强度，然后跟标准样品的X射线强度对比的比较方法。
没有标样时也可利用增量法，即在未知样品中添加一定量的分析元素或含分析元素的物质（与测定物质化学组成类似的物质），据含量与X射线强度变化求得分析值。
标样比较法大致可分为以下几种：
①校正曲线法。这是应用最广泛的一种方法。用与测定样品组成类似的多个标样，据其含量和测得的X射线荧光强度的关系预先作好校正曲线。
测定未知样品的X射线荧光强度，再使用校正曲线来确定含量的分析方法叫做校正曲线法。除了在所述方法之外，为了减少基体效应，一般还常采用与稀释法（包括重元素稀释法在内）等制样技术相配合的分析校正曲线法。
②数学校正法；这是当用分析校正曲线法不能克服基体效应（吸收增强效应及谱线重叠）时采用的靠数学计算来校正基体效应的一种方法。
③内标法：这是一种校正基体元素吸收增强效应的方法。该法用一组包含一定比例内标元素、含量已知的标准样品作标样，先求出分析元素和内标元素X射线荧光强度之比，再将强度比和含量的关系作成校正曲线。
测定样品中也添加标样相同的内标物质，求出X射线荧光强度比，即可从校正曲线中确定含量。
此外，还有把以固定量存在于样品中的元素作为内标的方法（潜在内标法）和把X射线管的射线作为内标的方法（散射线内标法）。
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