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2 X射线荧光光谱仪与测定条件-12
2.5 光路的选择
X射线波长越长，空气的吸收越多，因此X射线光路必须抽成真空或置换成氦气。
(1) 真空度变化和强度变化的关系
在真空下分析时，一般必须使真空度稳定在0.5mmHg（66.6Pa）以下。分析超软X射线时，真空度的变化直接影响X射线强度的变化。通常必须注意要等达到规定真空度之后，才开始分析或者从真空度影响小的重元素开始测定。
（2）大气光路下温度变化和强度变化的关系
在大气光路下进行测定时，温度或气压发生变化，空气密度就要改变，因此X射线的强度就不一样。设X射线光路长为30cm，在20℃、1个大气压下，X射线强度的变化如表2－3所示。
（3）氦气光路的作用
把X射线光路换成氦气光路来进行分析时，很重要的一点是气体置换要完全，X射线强度要稳定之后才进行分析。若还残存有空气则X射线强度要降低。置换开始时，可让气体快速大量流过，待稳定之后让少量气体定量地流过就行了。无论是液体样品、粉末样品还是难于压片的样品都最好在氦气光路下测定。另外在真空中反复测定活性氧化铝中的微量硅时，硅的X射线强度往往增加。一般认为这是由于氧化铝会吸附真空光路中的硅之缘故。因而在氦气光路下，上述问题便不会出现，这便是氦气光路的作用。
表2-3 大气光路下温度、气压变化与X射线强度的变化的关系
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