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2 X射线荧光光谱仪与测定条件-5
2.2.3 X射线管的杂质线与背景
（1）X射线管的杂质线
在分析微量铁、镍、铜、锌等元素时，由X射线管产生的杂质线往往使背景增高。消除这种杂质的方法有三种：一种是使用一次X射线滤光片；另一种是换用杂质线少的X射线管；还有一种是估计杂质线的强度。估计杂质线空白值的方法中有一种是利用组成相似的样品其峰值强度与背景强度之比不变这一关系，通过数学计算来校正的方法。
（2）背景的问题
从X射线管辐射出的是连续X射线，这种连续X射线经样品散射变成背景，往往使精密度及检出限降低，此外由X射线管产生的特征X射线相干散射（瑞利散射）及不相干散射（康普顿散射）在轻元素基体的样品中很厉害，会变成干扰在其附近出现的分析线弱峰。在公害分析中分析铅、砷、汞等元素时一般都使用钻靶或铑靶X射线管，这是因为MoKα、Kβ或RhKα、Kβ等特征X射线的激发效率高，对铅、砷等元素的谱线不干扰，而且其连续X射线的背景低。
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