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DAGE4000 中文操作手册

简介：DAGE4000主要用于测试芯片金线/铜线的键合情况 主要特征： 1 拉力测试测试范围可在0-100G；0-1KG；0-10KG进行选择； 2 推球测试测试范围可在250G 或 5KG进行选择； 3 芯片或CHIP推力测试范围可在测试到0-100公斤； 0-200KG进 详细>
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