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利用D-Swafer執行GC/MS中心切割来检验溶剂中的杂质

简介：由于不同的目的，溶剂广泛的用于制药和食品工业，在使用前要严格进行杂质质量控制(QC)，这一点非常重要，可以确保有害物质不会超标。 用气相色谱（GC）测定溶劑中的杂质，是常见的理想方法。併用质譜儀（MS）检测器的數據能够進一步确定杂质的成分。 详细>
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