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PARAM博每 HST-H3热封试验仪技术资料

简介：PARAM博每 HST-H3热封试验仪技术资料 热封试验仪采用热压封口法测定塑料薄膜基材、软包装复合膜、涂布纸及其它热封复合膜的热封温度、热封时间、热封压力等参数。熔点、热稳定性、 流动性及厚度不同的热封材料，会表现出不同的热封性能，其封口工艺参数可能差别很大。热封试验仪通过其标准化的设计、规范化的操作，可获得精确的热封试验指标。 更多技术资料请下载附件查看！
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